2014年3月7日

[QT] 將QString 轉成 Char 型態


由於要使用 fopen() 函數,需要給檔案路徑,可是fopen 只吃char 字元陣列,
而程式取路徑的方式是使用QFileDialog 的getOpenFileName ,傳出的是QString 類型。
所以得經過轉換才可以。

QString 透過 QByteArray 將字串轉為字元陣列。

QString str;
QByteArray byteArray = str.toLocal8Bit ();
char *c = byteArray.data();

參考資料:
1. http://0rz.tw/aNtB6

2014年3月6日

靜電保護-ESD 概念

靜電容易對電子產品造成傷害,輕微的可能重開機可以排除,嚴重的會造成電子元件永久性的損毀。

EDS元件防護原理(TVS):當有瞬間電壓超過電路正常工作電壓時,TVS會產生雪崩,產生一個對地的超低電阻通道,將瞬間電流由TVS引開保護其元件,脈衝結束後,TVS會回復高阻抗,使元件可以正常工作。

ESD國際規範:IES 61000-4-2

根據EN 61000-4-2 靜電測試方法:

  1. 空氣放電測試:模擬人的手指觸碰電子產品時所發生的靜電放電情況。
    測試方式:靜電槍用8mm的放電頭,測試電壓由低到高,對經常容易觸碰的非金屬部位做測試,通常最高測到正負8KV,法規中保留容許高於正負15KV的測試條件。
  2. 接觸放電測試:模擬操作人員直接或間接,接觸到電子產品所產生的放電情況。
    測試方式:靜電槍對待測品金屬部位做放電測試,通常測試到正負4KV。

IEC 61000-4-2 測試電壓與還境條件

測試結果評估判定:
ESD 測試結果評估須按被測試產品功能受影響的程度做判定, 
依法規係將受影響的程度分為四級: 
  • 第一級為 A 級判定 (Criterion A): 指產品功能在測試前後及測試過程中完全可 以正常操作, 無任何功能減低或異常現象出現, 完全不受 ESD 放電影響, 則稱產 品符合 A 級判定結果.
  • 第二級為 B 級判定 (Criterion B): 指產品在測試過程中,功能會受 ESD 放電影響, 在放電瞬間會暫時性的功能降低, 但可以自動回復, 這樣的產品則稱符合 B 級判 定結果.
  • 第三級為 C 級判定 (Criterion C):指產品功能在測試前可正常被操作,但測試過程 中受 ESD 放電影響, 出現功能降低或異常, 且功能無法自動回復, 必須經由操作 人員做重置(Re-set)或重開機的動做才能回復功能, 這情形則僅符合 C 級判定結 果.
  • 第四級為 D 級判定 (Criterion D): 指產品功能在測試前可正常被操作,但測試過 程中出現異常,雖經由操作人員做重置(Re-set)或重開機也不能回復功能, 這種情 況大概產品已損傷嚴重, 僅符合 D 級判定結果. (這屬不合格).
依IEC 61000-4-2法規建議,產品採購驗證必須符合A級或B級的判定才能接受, C 級和 D 級判定是不合格的. 


常見的ESD元件:
1. Varistor
2. ESD Guard:超低電容值,適合用在高頻訊號。
3. Zener Diode
4. TVS Diode:常用。

參考資料:

  1. http://www.digitimes.com.tw/tw/dt/n/shwnws.asp?id=0000160028_COJ1T6HK1WRFXA97F4HMK
  2. http://www.eettaiwan.com/ART_8800352147_480402_TA_ec8aeb8f.HTM
  3. http://www.lcis.com.tw/paper_store/paper_store/esd-test-protect-20141270243921.pdf